Charge Transport Properties in CZT Detectors Grown by the Vertical Bridgman Technique

Zappettini A;
2010

2010
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
IEEE 2010 NSS MIC RTSD
Knoxville, Tennessee, USA
CdZnTe
X-ray detectors
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Auricchio N.; Marchini L.; Caroli E.; Stephen J. B.; Zanichelli M.; Zappettini A.; Abbene L.; Del Sordo S.
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
1
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