SPERA, MONIA
SPERA, MONIA
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Improvement of Ti/Al/Ti Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures by insertion of a thin carbon interfacial layer
2024 Greco, G.; Di Franco, S.; Lo Nigro, R.; Bongiorno, C.; Spera, M.; Badala, P.; Iucolano, F.; Roccaforte, F.
Forward and reverse current transport mechanisms in tungsten carbide Schottky contacts on AlGaN/GaN heterostructures
2021 Greco, G.; Fiorenza, P.; Spera, M.; Giannazzo, F.; Roccaforte, F.
Ni Schottky barrier on heavily doped phosphorous implanted 4H-SiC
2021 Vivona, M.; Greco, G.; Spera, M.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; La Magna, A.; Roccaforte, F.
Active dopant profiling and Ohmic contacts behavior in degenerate n-type implanted silicon carbide
2020 Spera, Monia; Greco, Giuseppe; Severino, Andrea; Vivona, Marilena; Fiorenza, Patrick; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio
Current transport mechanisms in au-free metallizations for cmos compatible gan hemt technology
2020 Roccaforte, F.; Spera, M.; Di Franco, S.; Lo Nigro, R.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; Iucolano, F.; Greco, G.
The advanced Virgo longitudinal control system for the O2 observing run
2020 Acernese, F.; Agathos, M.; Aiello, L.; Allocca, A.; Aloy, M. A.; Amato, A.; Antier, S.; Arene, M.; Arnaud, N.; Ascenzi, S.; Astone, P.; Aubin, F.; Babak, S.; Bacon, P.; Badaracco, F.; Bader, M. K. M.; Baird, J.; Baldaccini, F.; Ballardin, G.; Barbieri, C.; Barone, F.; Barsuglia, M.; Barta, D.; Basti, A.; Bawaj, M.; Bazzan, M.; Bejger, M.; Belahcene, I.; Bernuzzi, S.; Bersanetti, D.; Bertolini, A.; Bischi, M.; Bitossi, M.; Bizouard, M. A.; Bloemen, S.; Bobba, F.; Boer, M.; Bogaert, G.; Bondu, F.; Bonnand, R.; Boom, B. A.; Boschi, V.; Bouffanais, Y.; Bozzi, A.; Bradaschia, C.; Branchesi, M.; Breschi, M.; Briant, T.; Brighenti, F.; Brillet, A.; Brooks, J.; Bulik, T.; Bulten, H. J.; Buskulic, D.; Buy, C.; Cagnoli, G.; Calloni, E.; Canepa, M.; Carapella, G.; Carbognani, F.; Carullo, G.; Casanueva Diaz, J.; Casentini, C.; Caudill, S.; Cavalier, F.; Cavalieri, R.; Cella, G.; Cerda-Duran, P.; Cesarini, E.; Chaibi, O.; Chassande-Mottin, E.; Chincarini, A.; Chiummo, A.; Christensen, N.; Chua, S.; Ciani, G.; Cieslar, M.; Ciolfi, R.; Cipriano, F.; Cirone, A.; Cleva, F.; Coccia, E.; Cohadon, P. -F.; Cohen, D.; Colpi, M.; Conti, L.; Cordero-Carrion, I.; Corezzi, S.; Corre, D.; Cortese, S.; Coulon, J. -P.; Croquette, M.; Cuoco, E.; Dangelo, B.; D'Antonio, S.; Dattilo, V.; Davier, M.; Degallaix, J.; De Laurentis, M.; Deleglise, S.; Del Pozzo, W.; De Pietri, R.; De Rosa, R.; De Rossi, C.; Dietrich, T.; Di Fiore, L.; Di Giorgio, C.; Di Giovanni, F.; Di Giovanni, M.; Di Girolamo, T.; Di Lieto, A.; Di Pace, S.; Di Palma, I.; Di Renzo, F.; Drago, M.; Ducoin, J. -G.; Durante, O.; Eisenmann, M.; Errico, L.; Estevez, D.; Fafone, V.; Farinon, S.; Feng, F.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fiori, I.; Fiorucci, D.; Fittipaldi, R.; Fiumara, V.; Flaminio, R.; Font, J. A.; Fournier, J. -D.; Frasca, S.; Frasconi, F.; Frey, V.; Fronze, G.; Gammaitoni, L.; Garufi, F.; Gemme, G.; Genin, E.; Gennai, A.; Ghosh, A.; Giacomazzo, B.; Gonzalez Castro, J. M.; Gosselin, M.; Gouaty, R.; Grado, A.; Granata, M.; Greco, G.; Grimaldi, A.; Grimm, S. J.; Groot, P.; Gruning, P.; Guidi, G. M.; Guo, Y.; Gupta, P.; Halim, O.; Harder, T.; Harms, J.; Heidmann, A.; Heitmann, H.; Hello, P.; Hemming, G.; Hinderer, T.; Hofman, D.; Huet, D.; Hui, V.; Idzkowski, B.; Iess, A.; Intini, G.; Isac, J. -M.; Jacqmin, T.; Jaranowski, P.; Jonker, R. J. G.; Katsanevas, S.; Kefelian, F.; Khan, I.; Khetan, N.; Koekoek, G.; Koley, S.; Krolak, A.; Kutynia, A.; Laghi, D.; Lartaux-Vollard, A.; Lazzaro, C.; Leaci, P.; Leroy, N.; Letendre, N.; Linde, F.; Llorens-Monteagudo, M.; Longo, A.; Lorenzini, M.; Loriette, V.; Losurdo, G.; Lumaca, D.; Macquet, A.; Majorana, E.; Maksimovic, I.; Man, N.; Mangano, V.; Mantovani, M.; Mapelli, M.; Marchesoni, F.; Marion, F.; Marquina, A.; Marsat, S.; Martelli, F.; Martinez, V.; Masserot, A.; Mastrogiovanni, S.; Meidam, J.; Mejuto Villa, E.; Mereni, L.; Merzougui, M.; Messina, F.; Metzdorff, R.; Miani, A.; Michel, C.; Milano, L.; Miller, A.; Minazzoli, O.; Minenkov, Y.; Montani, M.; Morawski, F.; Mours, B.; Muciaccia, F.; Nagar, A.; Nardecchia, I.; Naticchioni, L.; Neilson, J.; Nelemans, G.; Nguyen, C.; Nichols, D.; Nissanke, S.; Nocera, F.; Obergaulinger, M.; Oganesyan, G.; Pagano, G.; Pagliaroli, G.; Palomba, C.; Pang, P. T. H.; Pannarale, F.; Paoletti, F.; Paoli, A.; Pascucci, D.; Pasqualetti, A.; Passaquieti, R.; Passuello, D.; Patil, M.; Patricelli, B.; Pedurand, R.; Perego, A.; Perigois, C.; Perreca, A.; Piccinni, O. J.; Pichot, M.; Piergiovanni, F.; Pierro, V.; Pillant, G.; Pinard, L.; Pinto, I. M.; Plastino, W.; Poggiani, R.; Popolizio, P.; Porter, E. K.; Prodi, G. A.; Punturo, M.; Puppo, P.; Raaijmakers, G.; Radulescu, N.; Rapagnani, P.; Razzano, M.; Regimbau, T.; Rei, L.; Rettegno, P.; Ricci, F.; Riemenschneider, G.; Robinet, F.; Rocchi, A.; Rolland, L.; Romanelli, M.; Romano, R.; Rosinska, D.; Ruggi, P.; Salafia, O. S.; Salconi, L.; Samajdar, A.; Sanchis-Gual, N.; Santos, E.; Sassolas, B.; Sauter, O.; Schmidt, P.; Sentenac, D.; Sequino, V.; Sharma, A.; Sieniawska, M.; Singh, N.; Singhal, A.; Sorrentino, F.; Spera, M.; Stachie, C.; Steer, D. A.; Stratta, G.; Sur, A.; Swinkels, B. L.; Tacca, M.; Tiwari, S.; Tonelli, M.; Torres-Forne, A.; Travasso, F.; Tringali, M. C.; Trovato, A.; Trozzo, L.; Tsang, K. W.; Valentini, M.; van Bakel, N.; van Beuzekom, M.; van den Brand, J. F. J.; Van Den Broeck, C.; van der Schaaf, L.; Vardaro, M.; Vasuth, M.; Vedovato, G.; Verkindt, D.; Vetrano, F.; Vicere, A.; Vinet, J. -Y.; Vocca, H.; Walet, R.; Was, M.; Williamson, A. R.; Zadrozny, A.; Zelenova, T.; Zendri, J. -P.
Barrier inhomogeneity in vertical Schottky diodes on free standing gallium nitride
2019 Roccaforte, F; Giannazzo, F; Alberti, A; Spera, M; Cannas, M; Cora, I; Pecz, B; Iucolano, F; Greco, G
Effect of high temperature annealing (T > 1650 degrees C) on the morphological and electrical properties of p-type implanted 4H-SiC layers
2019 Spera, M; Corso, D; Di Franco, S; Greco, G; Severino, A; Fiorenza, P; Giannazzo, F; Roccaforte, F
Fabrication and characterization of ohmic contacts to 3C-SiC layers grown on silicon
2019 Spera, M; Greco, G; Lo Nigro, R; Di Franco, S; Corso, D; Fiorenza, P; Giannazzo, F; Zielinski, M; La Via, F; Roccaforte, F
Metal/Semiconductor Barrier Properties of Non-Recessed Ti/Al/Ti and Ta/Al/Ta Ohmic Contacts on AlGaN/GaN Heterostructures
2019 Spera, Monia; Greco, Giuseppe; LO NIGRO, Raffaella; Scalese, Silvia; Bongiorno, Corrado; Cannas, Marco; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio
Ohmic contacts on n-type and p-type cubic silicon carbide (3C-SiC) grown on silicon
2019 Spera, M. ,,; Greco, G. ; Lo Nigro, R. ; Bongiorno, C. ; Giannazzo, F. ; Zielinski, M. ; La Via, F. ; Roccaforte, F.
Ohmic Contacts on p-Type Al-Implanted 4H-SiC Layers after Different Post-Implantation Annealings
2019 Spera, Monia; Greco, Giuseppe; Corso, Domenico; Di Franco, Salvatore; Severino, Andrea; Messina, Angelo Alberto; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio
Modification of the sheet resistance under Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures
2018 M. Spera ,,; C. Miccoli ; R. Lo Nigro ; C. Bongiorno ; D. Corso ; S. Di Franco ; F. Iucolano ; F. Roccaforte ; G. Greco
La Valutazione Partecipata dei Centri Diurni per la Salute Mentale nel Comune di Roma: un’esperienza di ricerca-intervento in contesto sociosanitario
2011 Spera, M.; Coli, E.; Rissotto, A.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Improvement of Ti/Al/Ti Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures by insertion of a thin carbon interfacial layer | 1-gen-2024 | Greco, G.; Di Franco, S.; Lo Nigro, R.; Bongiorno, C.; Spera, M.; Badala, P.; Iucolano, F.; Roccaforte, F. | |
| Forward and reverse current transport mechanisms in tungsten carbide Schottky contacts on AlGaN/GaN heterostructures | 1-gen-2021 | Greco, G.; Fiorenza, P.; Spera, M.; Giannazzo, F.; Roccaforte, F. | |
| Ni Schottky barrier on heavily doped phosphorous implanted 4H-SiC | 1-gen-2021 | Vivona, M.; Greco, G.; Spera, M.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; La Magna, A.; Roccaforte, F. | |
| Active dopant profiling and Ohmic contacts behavior in degenerate n-type implanted silicon carbide | 1-gen-2020 | Spera, Monia; Greco, Giuseppe; Severino, Andrea; Vivona, Marilena; Fiorenza, Patrick; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio | |
| Current transport mechanisms in au-free metallizations for cmos compatible gan hemt technology | 1-gen-2020 | Roccaforte, F.; Spera, M.; Di Franco, S.; Lo Nigro, R.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; Iucolano, F.; Greco, G. | |
| The advanced Virgo longitudinal control system for the O2 observing run | 1-gen-2020 | Acernese, F.; Agathos, M.; Aiello, L.; Allocca, A.; Aloy, M. A.; Amato, A.; Antier, S.; Arene, M.; Arnaud, N.; Ascenzi, S.; Astone, P.; Aubin, F.; Babak, S.; Bacon, P.; Badaracco, F.; Bader, M. K. M.; Baird, J.; Baldaccini, F.; Ballardin, G.; Barbieri, C.; Barone, F.; Barsuglia, M.; Barta, D.; Basti, A.; Bawaj, M.; Bazzan, M.; Bejger, M.; Belahcene, I.; Bernuzzi, S.; Bersanetti, D.; Bertolini, A.; Bischi, M.; Bitossi, M.; Bizouard, M. A.; Bloemen, S.; Bobba, F.; Boer, M.; Bogaert, G.; Bondu, F.; Bonnand, R.; Boom, B. A.; Boschi, V.; Bouffanais, Y.; Bozzi, A.; Bradaschia, C.; Branchesi, M.; Breschi, M.; Briant, T.; Brighenti, F.; Brillet, A.; Brooks, J.; Bulik, T.; Bulten, H. J.; Buskulic, D.; Buy, C.; Cagnoli, G.; Calloni, E.; Canepa, M.; Carapella, G.; Carbognani, F.; Carullo, G.; Casanueva Diaz, J.; Casentini, C.; Caudill, S.; Cavalier, F.; Cavalieri, R.; Cella, G.; Cerda-Duran, P.; Cesarini, E.; Chaibi, O.; Chassande-Mottin, E.; Chincarini, A.; Chiummo, A.; Christensen, N.; Chua, S.; Ciani, G.; Cieslar, M.; Ciolfi, R.; Cipriano, F.; Cirone, A.; Cleva, F.; Coccia, E.; Cohadon, P. -F.; Cohen, D.; Colpi, M.; Conti, L.; Cordero-Carrion, I.; Corezzi, S.; Corre, D.; Cortese, S.; Coulon, J. -P.; Croquette, M.; Cuoco, E.; Dangelo, B.; D'Antonio, S.; Dattilo, V.; Davier, M.; Degallaix, J.; De Laurentis, M.; Deleglise, S.; Del Pozzo, W.; De Pietri, R.; De Rosa, R.; De Rossi, C.; Dietrich, T.; Di Fiore, L.; Di Giorgio, C.; Di Giovanni, F.; Di Giovanni, M.; Di Girolamo, T.; Di Lieto, A.; Di Pace, S.; Di Palma, I.; Di Renzo, F.; Drago, M.; Ducoin, J. -G.; Durante, O.; Eisenmann, M.; Errico, L.; Estevez, D.; Fafone, V.; Farinon, S.; Feng, F.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Fiori, I.; Fiorucci, D.; Fittipaldi, R.; Fiumara, V.; Flaminio, R.; Font, J. A.; Fournier, J. -D.; Frasca, S.; Frasconi, F.; Frey, V.; Fronze, G.; Gammaitoni, L.; Garufi, F.; Gemme, G.; Genin, E.; Gennai, A.; Ghosh, A.; Giacomazzo, B.; Gonzalez Castro, J. M.; Gosselin, M.; Gouaty, R.; Grado, A.; Granata, M.; Greco, G.; Grimaldi, A.; Grimm, S. J.; Groot, P.; Gruning, P.; Guidi, G. M.; Guo, Y.; Gupta, P.; Halim, O.; Harder, T.; Harms, J.; Heidmann, A.; Heitmann, H.; Hello, P.; Hemming, G.; Hinderer, T.; Hofman, D.; Huet, D.; Hui, V.; Idzkowski, B.; Iess, A.; Intini, G.; Isac, J. -M.; Jacqmin, T.; Jaranowski, P.; Jonker, R. J. G.; Katsanevas, S.; Kefelian, F.; Khan, I.; Khetan, N.; Koekoek, G.; Koley, S.; Krolak, A.; Kutynia, A.; Laghi, D.; Lartaux-Vollard, A.; Lazzaro, C.; Leaci, P.; Leroy, N.; Letendre, N.; Linde, F.; Llorens-Monteagudo, M.; Longo, A.; Lorenzini, M.; Loriette, V.; Losurdo, G.; Lumaca, D.; Macquet, A.; Majorana, E.; Maksimovic, I.; Man, N.; Mangano, V.; Mantovani, M.; Mapelli, M.; Marchesoni, F.; Marion, F.; Marquina, A.; Marsat, S.; Martelli, F.; Martinez, V.; Masserot, A.; Mastrogiovanni, S.; Meidam, J.; Mejuto Villa, E.; Mereni, L.; Merzougui, M.; Messina, F.; Metzdorff, R.; Miani, A.; Michel, C.; Milano, L.; Miller, A.; Minazzoli, O.; Minenkov, Y.; Montani, M.; Morawski, F.; Mours, B.; Muciaccia, F.; Nagar, A.; Nardecchia, I.; Naticchioni, L.; Neilson, J.; Nelemans, G.; Nguyen, C.; Nichols, D.; Nissanke, S.; Nocera, F.; Obergaulinger, M.; Oganesyan, G.; Pagano, G.; Pagliaroli, G.; Palomba, C.; Pang, P. T. H.; Pannarale, F.; Paoletti, F.; Paoli, A.; Pascucci, D.; Pasqualetti, A.; Passaquieti, R.; Passuello, D.; Patil, M.; Patricelli, B.; Pedurand, R.; Perego, A.; Perigois, C.; Perreca, A.; Piccinni, O. J.; Pichot, M.; Piergiovanni, F.; Pierro, V.; Pillant, G.; Pinard, L.; Pinto, I. M.; Plastino, W.; Poggiani, R.; Popolizio, P.; Porter, E. K.; Prodi, G. A.; Punturo, M.; Puppo, P.; Raaijmakers, G.; Radulescu, N.; Rapagnani, P.; Razzano, M.; Regimbau, T.; Rei, L.; Rettegno, P.; Ricci, F.; Riemenschneider, G.; Robinet, F.; Rocchi, A.; Rolland, L.; Romanelli, M.; Romano, R.; Rosinska, D.; Ruggi, P.; Salafia, O. S.; Salconi, L.; Samajdar, A.; Sanchis-Gual, N.; Santos, E.; Sassolas, B.; Sauter, O.; Schmidt, P.; Sentenac, D.; Sequino, V.; Sharma, A.; Sieniawska, M.; Singh, N.; Singhal, A.; Sorrentino, F.; Spera, M.; Stachie, C.; Steer, D. A.; Stratta, G.; Sur, A.; Swinkels, B. L.; Tacca, M.; Tiwari, S.; Tonelli, M.; Torres-Forne, A.; Travasso, F.; Tringali, M. C.; Trovato, A.; Trozzo, L.; Tsang, K. W.; Valentini, M.; van Bakel, N.; van Beuzekom, M.; van den Brand, J. F. J.; Van Den Broeck, C.; van der Schaaf, L.; Vardaro, M.; Vasuth, M.; Vedovato, G.; Verkindt, D.; Vetrano, F.; Vicere, A.; Vinet, J. -Y.; Vocca, H.; Walet, R.; Was, M.; Williamson, A. R.; Zadrozny, A.; Zelenova, T.; Zendri, J. -P. | |
| Barrier inhomogeneity in vertical Schottky diodes on free standing gallium nitride | 1-gen-2019 | Roccaforte, F; Giannazzo, F; Alberti, A; Spera, M; Cannas, M; Cora, I; Pecz, B; Iucolano, F; Greco, G | |
| Effect of high temperature annealing (T > 1650 degrees C) on the morphological and electrical properties of p-type implanted 4H-SiC layers | 1-gen-2019 | Spera, M; Corso, D; Di Franco, S; Greco, G; Severino, A; Fiorenza, P; Giannazzo, F; Roccaforte, F | |
| Fabrication and characterization of ohmic contacts to 3C-SiC layers grown on silicon | 1-gen-2019 | Spera, M; Greco, G; Lo Nigro, R; Di Franco, S; Corso, D; Fiorenza, P; Giannazzo, F; Zielinski, M; La Via, F; Roccaforte, F | |
| Metal/Semiconductor Barrier Properties of Non-Recessed Ti/Al/Ti and Ta/Al/Ta Ohmic Contacts on AlGaN/GaN Heterostructures | 1-gen-2019 | Spera, Monia; Greco, Giuseppe; LO NIGRO, Raffaella; Scalese, Silvia; Bongiorno, Corrado; Cannas, Marco; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio | |
| Ohmic contacts on n-type and p-type cubic silicon carbide (3C-SiC) grown on silicon | 1-gen-2019 | Spera, M. ,,; Greco, G. ; Lo Nigro, R. ; Bongiorno, C. ; Giannazzo, F. ; Zielinski, M. ; La Via, F. ; Roccaforte, F. | |
| Ohmic Contacts on p-Type Al-Implanted 4H-SiC Layers after Different Post-Implantation Annealings | 1-gen-2019 | Spera, Monia; Greco, Giuseppe; Corso, Domenico; Di Franco, Salvatore; Severino, Andrea; Messina, Angelo Alberto; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio | |
| Modification of the sheet resistance under Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures | 1-gen-2018 | M. Spera ,,; C. Miccoli ; R. Lo Nigro ; C. Bongiorno ; D. Corso ; S. Di Franco ; F. Iucolano ; F. Roccaforte ; G. Greco | |
| La Valutazione Partecipata dei Centri Diurni per la Salute Mentale nel Comune di Roma: un’esperienza di ricerca-intervento in contesto sociosanitario | 1-gen-2011 | Spera, M.; Coli, E.; Rissotto, A. |