SAPIENZA, SERGIO
SAPIENZA, SERGIO
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
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Carrier Lifetime Dependence on Temperature and Proton Irradiation in 4H-SiC Device: An Experimental Law
2024 Sozzi, Giovanna; Sapienza, Sergio; Chiorboli, Giovanni; Vines, Lasse; Hallén, Anders; Nipoti, Roberta
OCVD Measurement of Ambipolar and Minority Carrier Lifetime in 4H-SiC Devices: Relevance of the Measurement Setup
2021 Sozzi, Giovanna; Sapienza, Sergio; Nipoti, Roberta; Chiorboli, Giovanni
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Carrier Lifetime Dependence on Temperature and Proton Irradiation in 4H-SiC Device: An Experimental Law | 1-gen-2024 | Sozzi, Giovanna; Sapienza, Sergio; Chiorboli, Giovanni; Vines, Lasse; Hallén, Anders; Nipoti, Roberta | |
OCVD Measurement of Ambipolar and Minority Carrier Lifetime in 4H-SiC Devices: Relevance of the Measurement Setup | 1-gen-2021 | Sozzi, Giovanna; Sapienza, Sergio; Nipoti, Roberta; Chiorboli, Giovanni |