MUOIO, ANNAMARIA

MUOIO, ANNAMARIA  

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Epitaxial Growth and Characterization of 4H-SiC for Neutron Detection Applications 1-gen-2021 Meli, Alessandro; Muoio, Annamaria; Trotta, Antonio; Meda, Laura; Parisi, Miriam; La Via, Francesco
Silicon Carbide characterization at the n_TOF spallation source with quasi-monoenergetic fast neutrons 1-gen-2020 Kushoro, M H; Rebai, M; Dicorato, M; Rigamonti, D; Altana, C; Cazzaniga, C; Croci, G; Gorini, G; Lanzalone, G; La Via, F; Muoio, A; Muraro, A; Murtas, F; Cippo, E Perelli; Tardocchi, M; Barbagallo, M; Mingrone, F; Tudisco, S
Silicon Carbide devices for radiation detection and measurements 1-gen-2020 La Via F.; Tudisco S.; Altana C.; Boscardin M.; Ciampi C.; Cirrone G.A.P.; Fazzi A.; Giove D.; Gorini G.; Lanzalone G.; Muoio A.; Pasquali G.; Petringa G.; Puglia S.M.R.; Rebai M.; Santangelo A.; Trifiro A.
Silicon carbide for future intense luminosity nuclear physics investigations 1-gen-2019 Tudisco, S; Altana, C; Boscardin, M; Calcagno, L; Ciampi, C; Cirrone, G A P; Fazzi, A; Giove, D; Gorini, G; Labate, L; La Via, F; Lanzalone, G; Litrico, G; Muoio, A; Pasquali, G; Puglia, S M R; Rebai, M; Ronchin, S; Santangelo, A; Scuderi, V; Trifiro, A; Zimbone, M