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MUOIO, ANNAMARIA

MUOIO, ANNAMARIA  

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Defects Induced by High-Temperature Neutron Irradiation in 250 µm-Thick 4H-SiC p-n Junction Detector 1-gen-2025 Mancuso, A. S.; Sangregorio, E.; Muoio, A.; De Luca, S.; Kushoro, M. H.; Gallo, E.; Vanellone, S.; Quadrivi, E.; Trotta, A.; Calcagno, L.; La Via, F.
Model of Quality Factor for (111) 3C-SiC Double-Clamped Beams 1-gen-2025 Garofalo, A.; Muoio, A.; Sapienza, S.; Ferri, M.; Belsito, L.; Roncaglia, A.; La Via, F.
Numerical simulations for neutron detector optimization 1-gen-2025 Muoio, A.; De Luca, S.; Mancuso, A. S.; Minniti, T.; Sangregorio, E.; La Via, F.
Numerical Simulations of 3C-SiC High-Sensitivity Strain Meters 1-gen-2025 Muoio, A.; Garofalo, A.; Sapienza, S.; La Via, F.
Silicon Carbide devices for radiation detection: A review of the main performances 1-gen-2025 Tudisco, S.; Altana, C.; Amaducci, S.; Ciampi, C.; Cosentino, G.; De Luca, S.; La Via, F.; Lanzalone, G.; Muoio, A.; Pasquali, G.; Trifirò, A.
Advanced strategies for high activation in ion implanted 4H-SiC by laser annealing 1-gen-2024 Calabretta, C.; Pecora, A.; Agati, M.; Muoio, A.; Scuderi, V.; Privitera, S.; Reitano, R.; Piluso, N.; Severino, A.; Boninelli, S.; Via, F. L.
Exploring crystal recovery and dopant activation in coated laser annealing on ion implanted 4H–SiC epitaxial layers 1-gen-2024 Calabretta, C.; Pecora, A.; Agati, M.; Muoio, A.; Scuderi, V.; Privitera, S.; Reitano, R.; Boninelli, S.; La Via, F.
Modeling of ns-LPP plume expansion for Stopping Power studies 1-gen-2024 De Angelis, R.; Altana, C.; Cavallaro, S.; De Luca, S.; Lanzalone, G.; Presti, G. L.; Malferrari, L.; Muoio, A.; Odorici, F.; Tudisco, S.
Stress Fields Distribution and Simulation in 3C-SiC Resonators 1-gen-2024 Scuderi, Viviana; Muoio, Annamaria; Sapienza, Sergio; Ferri, Matteo; Belsito, Luca; Roncaglia, Alberto; La Via, Francesco
Radiation Damage by Heavy Ions in Silicon and Silicon Carbide Detectors 1-gen-2023 Altana, C.; Calcagno, L.; Ciampi, C.; La Via, F.; Lanzalone, G.; Muoio, A.; Pasquali, G.; Pellegrino, D.; Puglia, S.; Rapisarda, G.; Tudisco, S.
Automatic Image Analysis of Stackingfault 1-gen-2022 Muoio, A.; Calabretta, C.; Scuderi, V.; Zimbone, M.; La Via, F.
Effect of the Oxidation Process on Carrier Lifetime and on SF Defects of 4H SiC Thick Epilayer for Detection Applications 1-gen-2022 Meli, A.; Muoio, A.; Reitano, R.; Sangregorio, E.; Calcagno, L.; Trotta, A.; Parisi, M.; Meda, L.; La Via, F.
Graphite Assisted P and Al Implanted 4H-SiC Laser Annealing 1-gen-2022 Calabretta, C.; Pecora, A.; Agati, M.; Privitera, S.; Muoio, A.; Boninelli, S.; La Via, F.
Optical Characterization of 4H-SiC Thick Epitaxial Layer for Particle Detection 1-gen-2022 Meli, A.; Muoio, A.; Riccardo, R.; Trotta, A.; Parisi, M.; Meda, L.; La Via, F.
Epitaxial Growth and Characterization of 4H-SiC for Neutron Detection Applications 1-gen-2021 Meli, Alessandro; Muoio, Annamaria; Trotta, Antonio; Meda, Laura; Parisi, Miriam; LA VIA, Francesco
The NUMEN Technical Design Report 1-gen-2021 Cappuzzello, F.; Agodi, C.; Calabretta, L.; Calvo, D.; Carbone, D.; Cavallaro, M.; Colonna, M.; Finocchiaro, P.; Iazzi, F.; Linares, R.; Oliveira, J. R. B.; Pandola, L.; Santopinto, E.; Torresi, D.; Tudisco, S.; Acosta, L.; Altana, C.; Amador-Valenzuela, P.; Avanzi, L. H.; Bellone, J.; Bonanno, D.; Boztosun, I.; Brasolin, S.; Brischetto, G. A.; Brunasso, O.; Calabrese, S.; Campajola, L.; Capirossi, V.; Lomeli, E. R. C.; Ciraldo, I.; De Aguiar, V. A. P.; Delaunay, F.; Ferraresi, C.; Fisichella, M.; Gandolfo, E.; Guazzelli, M. A.; Via, F. L.; Lambarri, D. J. M.; Lenske, H.; Lubian, J.; Medina, N. H.; Mereu, P.; Moralles, M.; Muoio, A.; Petrascu, H.; Pinna, F.; Sartirana, D.; Sgouros, O.; Solakci, S. O.; Soukeras, V.; Spatafora, A.; Russo, A. D.; Yildirim, A.
A clear signature of the breakup modes for 9Be on a proton target at 5.6 MeV/nucleon 1-gen-2020 Pakou, A.; Sgouros, O.; Soukeras, V.; Cappuzzello, F.; Acosta, L.; Agodi, C.; Boiano, A.; Calabrese, S.; Carbone, D.; Cavallaro, M.; Deshmukh, N. N.; Foti, A.; Hacisalihoglou, A.; Keeley, N.; Commara, M. L.; Martel, I.; Mazzocco, M.; Muoio, A.; Parascandolo, C.; Pierroutsakou, D.; Rusek, K.; Sanchez-Benitez, A. M.; Santagati, G.; Souliotis, G.; Spatafora, A.; Strano, E.; Torresi, D.; Trzcinska, A.
Analysis of the background on cross section measurements with the MAGNEX spectrometer: The (20Ne, 20O) Double Charge Exchange case 1-gen-2020 Calabrese, S.; Cappuzzello, F.; Carbone, D.; Cavallaro, M.; Agodi, C.; Torresi, D.; Acosta, L.; Bonanno, D.; Bongiovanni, D.; Borello-Lewin, T.; Boztosun, I.; Brischetto, G. A.; Calvo, D.; Ciraldo, I.; Deshmukh, N.; de Faria, P. N.; Finocchiaro, P.; Foti, A.; Gallo, G.; Hacisalihoglu, A.; Iazzi, F.; Introzzi, R.; La Fauci, L.; Lanzalone, G.; Linares, R.; Longhitano, F.; Lo Presti, D.; Medina, N.; Muoio, A.; Oliveira, J. R. B.; Pakou, A.; Pandola, L.; Pinna, F.; Reito, S.; Russo, G.; Santagati, G.; Sgouros, O.; Solakci, S. O.; Soukeras, V.; Souliotis, G.; Spatafora, A.; Tudisco, S.; Zagatto, V. A. B.
Background estimate in heavy-ion two-body reactions measured by the MAGNEX spectrometer 1-gen-2020 Calabrese, S.; Cappuzzello, F.; Carbone, D.; Cavallaro, M.; Agodi, C.; Torresi, D.; Acosta, L.; Bonanno, D.; Bongiovanni, D.; Borello-Lewin, T.; Boztosun, I.; Brischetto, G.; Calvo, D.; Ciraldo, I.; Deshmukh, N.; de Faria, P. N.; Finocchiaro, P.; Foti, A.; Gallo, G.; Hacisalihoglu, A.; Iazzi, F.; Introzzi, R.; Lanzalone, G.; Linares, R.; Longhitano, F.; Lo Presti, D.; Medina, N.; Muoio, A.; Oliveira, J. R. B.; Pakou, A.; Pandola, L.; Pinna, F.; Reito, S.; Russo, G.; Santagati, G.; Sgouros, O.; Solakci, S. O.; Soukeras, V.; Souliotis, G.; Spatafora, A.; Tudisco, S.; Zagatto, V. A. B.
Be 9 + p breakup at 5.67A MeV in a full kinematics approach 1-gen-2020 Pakou, A.; Sgouros, O.; Soukeras, V.; Cappuzzello, F.; Acosta, L.; Agodi, C.; Boiano, A.; Calabrese, S.; Carbone, D.; Cavallaro, M.; Deshmukh, N. N.; Foti, A.; Hacisalihoglu, A.; Keeley, N.; La Commara, M.; Martel, I.; Mazzocco, M.; Muoio, A.; Parascandolo, C.; Pierroutsakou, D.; Rusek, K.; Sanchez-Benitez, A. M.; Santagati, G.; Souliotis, G.; Spatafora, A.; Strano, E.; Torresi, D.; Trzcinska, A.