D'ARRIGO, GIUSEPPE ALESSIO MARIA

D'ARRIGO, GIUSEPPE ALESSIO MARIA  

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Copper Micro-Flowers for Electrocatalytic Sensing of Nitrate Ions in Water 1-gen-2024 Farina, Roberta; D'Arrigo, Giuseppe; Alberti, Alessandra; Scalese, Silvia; Capuano, Giuseppe E.; Corso, Domenico; Screpis, Giuseppe A.; Coniglio, Maria Anna; Condorelli, Guglielmo G.; Libertino, Sebania
Electrochemical Growth of Copper Crystals on SPCE for Electrocatalysis Nitrate Reduction 1-gen-2024 Farina, Roberta; D'Arrigo, Giuseppe; Alberti, Alessandra; Capuano, Giuseppe E.; Corso, Domenico; Screpis, Giuseppe A.; Coniglio, Maria Anna; Condorelli, Guglielmo G.; Libertino, Sebania
Insight on defects mechanically introduced by nanoindentation in 4H-SiC p-n diode 1-gen-2024 Sciuto, A.; Barbarino, P. P.; Mello, D.; D'Arrigo, G.
Growth, Electronic and Electrical Characterization of Ge-Rich Ge-Sb-Te Alloy 1-gen-2022 Díaz Fattorini, A.; López García, C. Chèze.; Petrucci, C.; Bertelli, M.; Righi Riva, F.; Prili, S.; Privitera, S. M. S.; Buscema, M.; Sciuto, A.; Di Franco, S.; D'Arrigo, G.; Longo, M.; De Simone, S.; Mussi, V.; Placidi, E.; Cyrille, M. -C.; Tran, N. -P.; Calarco, R.; Arciprete, F.
4H-SiC p-n Junction-Based Near IR Photon Source 1-gen-2021 Sciuto, Antonella; Calcagno, Lucia; Mazzillo, Massimo; Mello, Domenico; Barbarino Pietro, Paolo; Zimbone, Massimo; D'Arrigo, GIUSEPPE ALESSIO MARIA
Mechanical characterization and properties of continuous wave laser irradiated Ge<inf>2</inf>Sb<inf>2</inf>Te<inf>5</inf> stripes 1-gen-2021 D'Arrigo, G.; Scuderi, M.; Mio, A.; Favarò, G.; Conte, M.; Sciuto, A.; Buscema, M.; LiDestri, G.; Carria, E.; Mello, D.; Calabretta, M.; Sitta, A.; Pries, J.; Rimini, E.
Crystallization of nano amorphized regions in thin epitaxial layer of Ge2Sb2Te5 1-gen-2020 D'Arrigo, G; Mio, A M; Boschker, J E; Meli, A; Cecchi, S; Zallo, E; Sciuto, A; Buscema, M; Bruno, E; Calarco, R; Rimini, E
Electrical characterization of gate oxide current in a silicon power MOS subjected to uniaxial mechanical stress 1-gen-2020 Selgi, Lorenzo Maurizio; Sciuto, Antonella; Calabretta, Michele; Sitta, Alessandro; D'Arrigo, Giuseppe
Experimental evaluation of oxide current on a low voltage trench gate power mos under mechanical bending conditions 1-gen-2020 Selgi Lorenzo, Maurizio; Sciuto, Antonella; Calabretta, Michele; Sitta, Alessandro; D'Arrigo, GIUSEPPE ALESSIO MARIA
Laser-driven proton acceleration via excitation of surface plasmon polaritons into TiO(2)nanotube array targets 1-gen-2020 Cristoforetti, G; Baffigi, F; Brandi, F; D'Arrigo, G; Fazzi, A; Fulgentini, L; Giove, D; Koester, P; Labate, L; Maero, G; Palla, D; Rome, M; Russo, R; Terzani, D; Tomassini, P; Gizzi, LEONIDA ANTONIO
Power Module Ceramic Substrates: Mechanical characterization and modeling 1-gen-2020 Sitta, Alessandro; Renna, Marco; Messina, Angelo Alberto; Mirone, Giuseppe; D'Arrigo, Giuseppe; Calabretta, Michele
Large-Area SiC-UV Photodiode for Spectroscopy Portable System 1-gen-2019 Sciuto A.; Meli A.; Calcagno L.; Di Franco S.; Mazzillo M.; Franzo G.; Albergo S.; Tricomi A.; Longo D.; Giudice G.; D'Arrigo G.
Material Characterization and Warpage Modeling for Power Devices Active Metal Brazed Substrates 1-gen-2019 Mirone, Giuseppe; Sitta, Alessandro; D'Arrigo, Giuseppe; Calabretta, Michele
SO2 Monitoring With Solid State-Based UV Spectroscopy Compact Apparatus 1-gen-2019 Giudice, G.; Sciuto, A.; Meli, A.; D'Arrigo, G.; Longo, D.
4H-SiC Detector in High Photons and Ions Irradiation Regime 1-gen-2018 Sciuto, A.; D'Arrigo, G.; Di Franco, S.; Mazzillo, M.; Franzo, G.; Torrisi, L.; Calcagno, L.
Mechanical and electrical characterization of CVD-grown graphene transferred on chalcogenide Ge<inf>2</inf>Sb<inf>2</inf>Te<inf>5</inf>layers 1-gen-2018 D'Arrigo, G.; Christian, M.; Morandi, V.; Favaro, G.; Bongiorno, C.; Mio, A. M.; Mio, A. M.; Russo, M.; Sitta, A.; Calabretta, M.; Sciuto, A.; Piccinini, E.; D'Urso, L.; Rizzoli, R.
Mechanical properties of amorphous Ge<inf>2</inf>Sb<inf>2</inf>Te<inf>5</inf>thin layers 1-gen-2018 D'Arrigo, G; Mio, A; Favaro, G; Calabretta, M; Sitta, A; Sciuto, A; Russo, M; Calì, M; Oliveri, M; Rimini, E
Reversibility of surface damage induced in SiC detectors by low intensity laser plasma 1-gen-2018 Sciuto, A; D'Arrigo, G; Mazzillo, M; Torrisi, L; Calcagno, L
Crystallization properties of Sb-rich GeSbTe alloys by in-situ morphological and electrical analysis 1-gen-2017 D'Arrigo, G.; Mio, A. M.; Boniardi, M.; Redaelli, A.; Varesi, E.; Privitera, S.; Pellegrino, G.; Spinella, C.; Rimini, E.
Fully Planar 4H-SiC Avalanche Photodiode With Low Breakdown Voltage 1-gen-2017 Sciuto, A; Mazzillo, M; Lenzi, P; Di Franco, S; Mello, D; Barbarino, P P; Longo, G; Cascinos, ; Santangelo, A; Albergo, S; Tricomi, A; Starodubtsev, O; Adriani, O; D'Arrigo, G