ARMIGLIATO, ALDO
ARMIGLIATO, ALDO
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
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Quantitative strain mapping in nanoelectronic silicon devices by convergent beam electron diffraction
2008 Armigliato A.; Balboni R.; Frabboni S.; Spessot A.
Microanalisi a Raggi X e microdiffrazione a fascio convergente: applicazioni al silicio
2006 Armigliato A; Balboni R; Frabboni S; Rosa R; Spessot A
Microanalisi a raggi X e microdiffrazione a fascio convergente:applicazioni al Silicio
2006 Armigliato, A; Frabboni, S; Rosa, R; Spessot, A
Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction
2004 Armigliato A.; Balboni R.; Benedetti A.; Frabboni S.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Quantitative strain mapping in nanoelectronic silicon devices by convergent beam electron diffraction | 1-gen-2008 | Armigliato A.; Balboni R.; Frabboni S.; Spessot A. | |
| Microanalisi a Raggi X e microdiffrazione a fascio convergente: applicazioni al silicio | 1-gen-2006 | Armigliato A; Balboni R; Frabboni S; Rosa R; Spessot A | |
| Microanalisi a raggi X e microdiffrazione a fascio convergente:applicazioni al Silicio | 1-gen-2006 | Armigliato, A; Frabboni, S; Rosa, R; Spessot, A | |
| Analysis of localised strains in crystals by convergent beam electron diffraction | 1-gen-2004 | Armigliato A.; Balboni R.; Benedetti A.; Frabboni S. |