CNR Institutional Research Information System

Quantitative investigations of micron-scale dopant inhomogeneities in Si-doped LEC GaAs

Frigeri C;
1989
1989
GaAs
LEC
dopant
inhomegeneities
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/116790
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact