CNR Institutional Research Information System

Analysis of dislocations and associated impurity atmospheres in bulk GaAs by means of SEM-EBIC measurements and DSL photoetching

Frigeri C;
1988
1988
Inglese
9th European Congress on Electron Microscopy (EUREM 88)
93
63
Sì, ma tipo non specificato
4-9/09/1988
York (UK)
GaAs
LEC
dislocations
EBIC
photoetching
2
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Frigeri, C; Weyher, J L
04.02 Abstract in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/116818
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact