CNR Institutional Research Information System

Study of microloops and associated particles in Si-doped HB GaAs by TEM, DSL photoetching and Laser Scattering Tomography

C Frigeri;
1991
1991
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
0-87849-545-2
GaAs
HB
microdefects
TEM
photoetching
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/118586
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