CNR Institutional Research Information System

Study of microloops and associated particles in Si-doped HB GaAs by TEM, DSL photoetching and Laser Scattering Tomography

C Frigeri;
1991
1991
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
A. Lörinczy
Crystal Properties and Preparation, Part 2
3RD EUROPEAN CONF ON CRYSTAL GROWTH ( ECCG 3 )
394
399
0-87849-545-2
Trans Tech Publications Ltd.
Stafa-Zurich
SWAZILAND
Sì, ma tipo non specificato
MAY 05-11, 1991
Budapest (H)
GaAs
HB
microdefects
TEM
photoetching
1
none
C. Frigeri; J. L. Weyher;P. Gall
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/118586
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact