CNR Institutional Research Information System

Preface

C Frigeri
2002
2002
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
C. Frigeri
Proceedings of the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX)
1
1
ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS
AMSTERDAM
PAESI BASSI
Sì, ma tipo non specificato
Recognition
Imaging
This issue of 'Materials Science and Engineering B' contains the papers presented at the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX), held in Rimini, Italy, from 24th to 28th September, 2001.
1
Frigeri, C
269
none
02 Contributo in Volume::02.02 Prefazione/Postfazione
info:eu-repo/semantics/bookPart
02.02 Prefazione/Postfazione
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/123850
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact