CNR Institutional Research Information System

Roughness and interface diffusion of SnO2 thin films probed by X-Ray Reflectivity and Atomic Force Microscopy

BARRECA, DAVIDE
2000
2000
Inglese
Edito da L. Armelao, D. Barreca, S. Daolio, E. Tondello, P.A. Vigato; Albignasego (PD), 2000
SYNTHESES AND METHODOLOGIES IN INORGANIC CHEMISTRY - New Compounds and Materials
9th Meeting on Syntheses and Methodologies in Inorganic Chemistry
193
195
3
4-7 Dicembre 2000
Bressanone (BZ)
1
none
Barreca, Davide
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/127782
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