CNR Institutional Research Information System

Investigation of the defect structures in CZ silicon crystals annealed in either oxygen or nitrogen atmosphere

C Frigeri;
2001
2001
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Si
FZ
annealing
stacking faults
04.03 Poster in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/130034
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact