CNR Institutional Research Information System

Investigation of the defect structures in CZ silicon crystals annealed in either oxygen or nitrogen atmosphere

C Frigeri;
2001
2001
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
Abstract book
12th Oxford Conference on Microscopy of Semiconducting Materials
P2-23
Sì, ma tipo non specificato
Mar 25-29, 2001
Oxford (UK)
Si
FZ
annealing
stacking faults
Conference: Royal-Microscopical-Society Conference on Microscopy of Semiconducting Materials Location: UNIV OXFORD, OXFORD, ENGLAND Date: MAR 25-29, 2001
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
C. Frigeri; M. Ma; T. Irisawa;T. Ogawa
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
1
04.03 Poster in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/130034
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