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MC-IR-LST and TEM combined analysis of defects in the OSF-ring of Cz-silicon crystals

C Frigeri;
2000
2000
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
CZ Si
EBIC
LST
TEM
OSF-ring
04.02 Abstract in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/130052
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