CNR Institutional Research Information System

MC-IR-LST and TEM combined analysis of defects in the OSF-ring of Cz-silicon crystals

C Frigeri;
2000
2000
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
Abstract book
BIAMS 2000: International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors 2000
54
54
Sì, ma tipo non specificato
Nov. 12-16, 2000
Fukuoka (J)
CZ Si
EBIC
LST
TEM
OSF-ring
1
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
C. Frigeri; M. Ma; T. Irisawa;T. Ogawa
04.02 Abstract in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/130052
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