On the absence of decoration As precipitates in Te-doped GaAs

C Frigeri;
2000

2000
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
EDS 2000, Extended Defects in Semiconductors
Sì, ma tipo non specificato
July 18-22, 2000
Brighton (UK)
As precipitates
Te-doped
GaAs
3
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Frigeri, C; L Weyher, J; Jiménez, J
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