CNR Institutional Research Information System

Influence of compositional macrosteps on the reduction of the critical thickness by generation of <010> misfit dislocations in InGaAs/GaAs quantum wells

C Frigeri
2000
2000
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
Abstract book
EXMATEC 2000, 5th International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies
O-120
Sì, ma tipo non specificato
21-24 maggio 2000
Heraklion, Crete (Gr)
InGaAs/GaAs
misfit dislocations
TEM
1
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
C. Frigeri
04.02 Abstract in Atti di convegno
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