CNR Institutional Research Information System

Structural-Optical study of high-dielectric-constant oxide films combining 0.75-6.5 eV ellipsometry and XRD

M Losurdo;M M Giangregorio;R G Toro;R Lo Nigro
2005
2005
E-MRS 2005 Spring Meeting
31 May-3 June, 2005
Strasbourg, France
8
none
Losurdo, M; M Giangregorio, M; Capezzuto, P; Bruno, G; G Toro, R; Malandrino, G; L Fragalà, I; LO NIGRO, Raffaella
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/131817
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