CNR Institutional Research Information System

A study of defects in LEC GaAs after copper diffusion

C Frigeri;
1999
1999
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
Abstract book
11th Inter. Conf. on Microscopy of Semiconducting Materials
42
42
Sì, ma tipo non specificato
Mar 22-25, 1999
Oxford (UK)
GaAs
copper diffusion
TEM
defects
3
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Frigeri, C; L Weyher, J; Müller, S
04.02 Abstract in Atti di convegno
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