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A study of dislocations in Te-doped GaAs using electron and optical beams

C Frigeri;
1996
1996
Inglese
Abstract book
4th Intern. Workshop on Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (BIADS)
50
June 3-6, 1996
El Escorial (E)
GaAs
Te-doped
TEM
optical method
4
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Pmartin, ; Frigeri, C; Jimenéz, J; Weyher, J
04.02 Abstract in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/134459
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