CNR Institutional Research Information System

Selective etching and complementary microprobe techniques

Frigeri C;
2003
2003
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
Juan Jiménez
Microprobe Characterization of Semiconductors
595
689
1-56032-941-6
Taylor & Francis Ltd.
Abingdon
REGNO UNITO DI GRAN BRETAGNA
Sì, ma tipo non specificato
Microprobe Technique
Optoelectronics
Materials
Characterization
3
02 Contributo in Volume::02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
268
none
Weyher, Jl; Frigeri, C; Müller, S
info:eu-repo/semantics/bookPart
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