CNR Institutional Research Information System

Microanalisi a Raggi X e microdiffrazione a fascio convergente: applicazioni al silicio

Armigliato A;Balboni R;
2006
2006
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Italiano
Quaglino D.; Falcieri E.; Catalano M.; Diaspro A.; Montone A.; Mengucci P.; Pellicciari C.
1956-2006 Cinquanta anni di microscopia in Italia tra storia, progresso ed innovazione
53
68
18
978-88-7963-215-7
2
02 Contributo in Volume::02.01 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
268
none
Armigliato A; Balboni R; Frabboni S; Rosa R; Spessot A
info:eu-repo/semantics/bookPart
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