CNR Institutional Research Information System

Electrical Instabilities in P-channel Polysilicon TFTs: Role of Hot Carrier and Self-heating Effects

Fortunato G;Gaucci P;Mariucci L;Pecora A;Valletta A
2007
2007
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
7th International Meeting on Information Display (IMID)
Sì, ma tipo non specificato
Daegu
Proc. 7th International Meeting on Information Display (IMID) (Daegu, Korea, 27-31 Aug. 2007) pg. 1065-1070
5
none
Fortunato, G; Gaucci, P; Mariucci, L; Pecora, A; Valletta, A
273
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04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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