Nanoanalytical and Nanostructural Assessment of InAs Quantum Dots Based Structures Processed by Focused Ion Beam

A Taurino;M Catalano;M Lomascolo;A Persano;A Convertino;L Cerri
2007

2007
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
Proceedings of the 8th Multinational Congress on Microscopy
8th Multinational Congress on Microscopy
311
312
978-80-239-9397-4
Sì, ma tipo non specificato
June 17-21, 2007
Prague
6
none
Taurino, A; Catalano, M; Lomascolo, M; Persano, A; Convertino, A; Cerri, L
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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