CNR Institutional Research Information System

Thermoelectric figure of merit variation in phosphorous and boron doped polysilicon films with annealing temperature

Mancarella F;Roncaglia A;Cristiani S;Cardinali GC;Severi M
2006
2006
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
04.01 Contributo in Atti di convegno
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