CNR Institutional Research Information System

Hump Characteristics and Edge Effects in Polysilicon Thin Film Transistors

A Valletta;P Gaucci;L Mariucci;G Fortunato;
2007
2007
Istituto di fotonica e nanotecnologie - IFN
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
04.01 Contributo in Atti di convegno
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