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Structural and analytical characterization of Si1-xGex heterostructures by Rutherford backscattering spectrometry and channeling, analytical electron microscopy and double X-ray diffractometry

A Armigliato;M Mazzer;R Balboni;
1992
1992
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
MONTE-CARLO SIMULATION
ROCKING-CURVE ANALYSIS
THIN-FILMS
DIFFRACTION
01.01 Articolo in rivista
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