CNR Institutional Research Information System

Structural and analytical characterization of Si1-xGex heterostructures by Rutherford backscattering spectrometry and channeling, analytical electron microscopy and double X-ray diffractometry

A Armigliato;M Mazzer;R Balboni;
1992
1992
Inglese
WOS:A1992KB37200006
3
4
363
384
22
Sì, ma tipo non specificato
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
MONTE-CARLO SIMULATION
ROCKING-CURVE ANALYSIS
THIN-FILMS
DIFFRACTION
2
info:eu-repo/semantics/article
262
A Armigliato; M Servidori; F Cembali; R Fabbri; R. Rosa; F. Corticelli; D Govoni; AV Drigo; M Mazzer; F Romanato; S Frabboni; R. Balboni; SS. Iyer; A ...espandi
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
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01.01 Articolo in rivista
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