CNR Institutional Research Information System

On the assessment of local stress distributions in integrated circuits

R Balboni;A Armigliato
1993
1993
Inglese
WOS:A1993KF03400022
63
1-4
119
125
7
2-s2.0-0027259535
Sì, ma tipo non specificato
SILICON
stress
integrated circuits
6
info:eu-repo/semantics/article
262
Vanhellemont, J; De Wolf, I; Janssens, Kgf; Frabboni, S; Balboni, R; Armigliato, A
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none
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