CNR Institutional Research Information System

Effects of static disorder on LACBED patterns of single crystal silicon implanted with hydrogen

R Balboni;A Armigliato
1997
1997
Inglese
WOS:000071954600083
157
415
418
4
Sì, ma tipo non specificato
Convergent beam electron diffraction
5
info:eu-repo/semantics/article
262
Frabboni, S; Gambetta, F; Tonini, R; Balboni, R; Armigliato, A
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/198661
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