CNR Institutional Research Information System

Are high resolution resistometric methods really useful for the early detection of electromigration damage?

A Scorzoni;R Balboni;M Impronta;
1997
1997
Inglese
WOS:A1997YB68300015
37
10-11
1479
1482
4
2-s2.0-0031248315
Sì, ma tipo non specificato
RESISTANCE CHANGES
LINES
2
info:eu-repo/semantics/article
262
A Scorzoni; S Franceschini; R Balboni; M Impronta; I De Munari; F Fantini
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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