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Strain measurements in thin film structures by convergent beam electron diffraction

A Armigliato;R Balboni;
1997
1997
Inglese
WOS:000071644400012
7
12
2375
2381
7
Sì, ma tipo non specificato
MICROSCOPY
HETEROSTRUCTURES
RELAXATION
2
info:eu-repo/semantics/article
262
A Armigliato; R Balboni; A Benedetti; S Frabboni; A Tixier; J Vanhellemont
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/198684
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