Strain analysis in submicron electron devices by convergent beam electron diffraction

	Anno
	
				2002
			
	Codice ISBN
	
				3-540-43312-0
			
	Appare nelle tipologie:
	
				04.01 Contributo in Atti di convegno

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/210616

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