CNR Institutional Research Information System

Early detection of the metallization quality using moderately accelerated electromigration stress conditions

A Scorzoni;M Impronta;R Balboni;
1998
1998
Inglese
MATERIALS RELIABILITY IN MICROELECTRONICS VIII
MRS
15
25
11
1-55899-422-X
Materials Research Society
Warrendale
STATI UNITI D'AMERICA
APR 13-16, 1998
SAN FRANCISCO, CA
2-s2.0-0032316249
WOS:000077688100003
7
none
Scorzoni, A; De Munari, I; Impronta, M; Balboni, R; Kelaidis, N; Foley, S; Forde, M
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/212945
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 4
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 4
social impact