CNR Institutional Research Information System

Strain and Ge concentration determinations in SiGe/Si multiple quantum wells by TEM methods

A Armigliato;R Balboni;
1999
1999
Inglese
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1999
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1999
164
219
222
4
0-7503-0650-5
IOP Publishing Ltd.
Bristol BS1 6BE
REGNO UNITO DI GRAN BRETAGNA
Sì, ma tipo non specificato
MAR 22-25, 1999
OXFORD, ENGLAND
silicon
WOS:000166835300095
8
none
Benedetti, A; Norris, Dj; Hetherington, Cjd; Cullis, Ag; Armigliato, A; Balboni, R; Robbins, Dj; Wallis, Dj
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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