CNR Institutional Research Information System

Distribution of the threshold voltage window in nanocrystal memories with Si dots formed by chemical vapor deposition: Effect of partial self-ordering

Lombardo S;Puglisi RA;Crupi I;Nicotra G;
2004
2004
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
04.01 Contributo in Atti di convegno
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