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CORSO, DOMENICO

CORSO, DOMENICO  

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Captisol® / porphyrin nanocomplexes for pathogens sensing and antimicrobial photodynamic therapy 1-gen-2022 Nina, Burduja; Zagami, Roberto; Domenico, Franco; Laura De Plano, ; Salvatore, Guglielmino; Trapani, Mariachiara; Marianna, Coniglio; Corso, Domenico; Libertino, Sebania; Monsù Scolaro Luigi, ; Mazzaglia, Antonino
Sulfobutylether ?eta cyclodextrin/ Porphirins nanocomplexes for pathogens sensing 1-gen-2022 Burduja, Nina; Zagami, Roberto; Trapani, Mariachiara; Anna Coniglio, Maria; Corso, Domenico; Libertino, Sebania; Monsù Scolaro, Luigi; Mazzaglia, Antonino
Environmental management of Legionella in domestic water systems: consolidated and innovative approaches for disinfection methods and risk assessment 1-gen-2021 Luigi Sciuto, Emanuele; Laganà, Pasqualina; Filice, Simona; Scalese, Silvia; Libertino, Sebania; Corso, Domenico; Faro, Giuseppina; Anna Coniglio, Maria
Biosensors in Monitoring Water Quality and Safety: An Example of a Miniaturizable Whole-Cell Based Sensor for Hg2+ Optical Detection in Water 1-gen-2019 Sciuto, EMANUELE LUIGI; Coniglio Maria, Anna; Corso, Domenico; van der Meer Jan, Roelof; Acerbi, Fabio; Gola, Alberto; Libertino, Sebania
Effect of high temperature annealing (T > 1650 degrees C) on the morphological and electrical properties of p-type implanted 4H-SiC layers 1-gen-2019 Spera, M; Corso, D; Di Franco, S; Greco, G; Severino, A; Fiorenza, P; Giannazzo, F; Roccaforte, F
Ohmic Contacts on p-Type Al-Implanted 4H-SiC Layers after Different Post-Implantation Annealings 1-gen-2019 Spera, Monia; Greco, Giuseppe; Corso, Domenico; Di Franco, Salvatore; Severino, Andrea; Messina, Angelo Alberto; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio
Modification of the sheet resistance under Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures 1-gen-2018 M. Spera ,,; C. Miccoli ; R. Lo Nigro ; C. Bongiorno ; D. Corso ; S. Di Franco ; F. Iucolano ; F. Roccaforte ; G. Greco
Metal/p-gan contacts on AlGaN/GaN heterostructures for normally-off HEMTs 1-gen-2016 Greco, G; Iucolano, F; Giannazzo, F; DI FRANCO, Salvatore; Corso, D; Smecca, E; Alberti, A; Patti, A; Roccaforte, F
Potentialities of Silicon Photomultiplier. 1-gen-2014 Pagano, R.; Libertino, S.; Corso, D.; Valvo, G.; Sanfilippo, D.; Fallica, P. G.; Lombardo, S.
Silicon Photomultiplier Device Architecture with Dark Current Improved to the Ultimate Physical Limit 1-gen-2013 Pagano, R; Valvo, G; Sanfilippo, D; Libertino, S; Corso, D; Fallica, Pg; Lombardo, S
Silicon Photomultiplier: Technology improvement and performance 1-gen-2013 Pagano, R; Libertino, S; Corso, D; Lombardo, S; Valvo, G; Sanfilippo, D; Condorelli, G; Mazzillo, M; Apiana, ; Carbone, B; Fallica, G
Dark Current in Silicon Photomultiplier Pixels: Data and Model 1-gen-2012 Pagano, R; Corso, D; Lombardo, S; Valvo, G; Sanfilippo, Dn; Fallica, G; Libertino, S
Improvement of the diffusive component of dark current in SiPM pixels 1-gen-2012 R. Pagano; S. Libertino; D. Corso; S. Lombardo; G. Valvo; D. Sanfilippo; G. Condorelli; M. Mazzillo; A.Piana; B. Carbone; G. Fallica
Ionizing radiation effects on Non Volatile Read Only Memory cells 1-gen-2012 S. Libertino; D. Corso; M. Lisiansky; Y. Roizin; F. Palumbo; F. Principato; C. Pace; P. Finocchiaro;S. Lombardo
Threshold Voltage Variability of NROM Memories After Exposure to Ionizing Radiation 1-gen-2012 Corso, D; Libertino, S; Lisiansky, M; Roizin, Y; Palumbo, F; Principato, F; Pace, C; Finocchiaro, P; Lombardo, S
Optimized Silicon Photomultipliers with optical trenches 1-gen-2011 R. Pagano; D. Corso; S. Lombardo; S. Libertino; G. Valvo; D. Sanfilippo; A. Russo; P.G. Fallica; A. Pappalardo; P. Finocchiaro
Multiple gate NVM cells with improved Fowler-Nordheim tunneling program and erase performances 1-gen-2010 Gerardi C; Tripiciano E; Cina G; Lombardo S; Garozzo C; Corso D; Betro G; Pace C; Crupi F
Radiation effects in nitride read-only memories 1-gen-2010 Libertino, S; Corso, D; Mure, G; Marino, A; Palumbo, F; Principato, F; Cannella, G; Schillaci, T; Giarusso, S; Celi, F; Lisiansky, M; Roizin, Y; Lombardo, S
Radiation Tolerance of NROM Embedded Products 1-gen-2010 Lisiansky, M; Cassuto, G; Roizin, Y; Corso, D; Libertino, S; Marino, A; Lombardo, Sa; Crupi, I; Pace, C; Crupi, F; Fuks, D; Kiv, A; Della Sala, E; Capuano, G; Palumbo, F
Electron programing and hole erasing in silicon nanocrystal Flash memories with fin field-effect transistor architecture 1-gen-2008 Corso D.; Mure G.; Lombardo S.; Cina G.; Tripiciano E.; Gerardi C.; Rimini E.