CNR Institutional Research Information System

Built-in Strain Measurements in Porous Silicon by Raman Scattering

MA Ferrara;L Sirleto;
2007
2007
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
AISEM 2007
4
Sì, ma tipo non specificato
iTALY
3
none
M.A. Ferrara; M.G. Donato; G. Messina; S. Santangelo; L. Sirleto; I. Rendina
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/240118
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