Characterization of a Scanning Microwave Microscope using 3D Finite-element Method

Andrea Lucibello;Giovanni M Sardi;Emanuela Proietti;Romolo Marcelli;
2014

2014
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Microwave Imaging
Scanning Microwave Microscopy
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/277138
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact