CNR Institutional Research Information System

Reliable response of RF MEMS LTCC packaged switches after mechanical and thermal stress

A Lucibello;G Capoccia;E Proietti;R Marcelli;G Bartolucci
2014
2014
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
RF MEMS
04.01 Contributo in Atti di convegno
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