CNR Institutional Research Information System

Electrical and reliability investigation of AlGaN/GaN HEMTs grown on 8° off-axis 4H-SiC

F Roccaforte;
2011
2011
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
978-88-8080-123-8
04.01 Contributo in Atti di convegno
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