CNR Institutional Research Information System

Electrical and reliability investigation of AlGaN/GaN HEMTs grown on 8° off-axis 4H-SiC

F Roccaforte;
2011
2011
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
Proceedings of the 35th European Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits - WOCSDICE2011
35th European Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits - WOCSDICE2011
153
154
978-88-8080-123-8
V. Raineri and F. Roccaforte
Catania
ITALIA
No
29 May - 1 June, 2011
Catania (Italy)
1
none
A. Stocco ; N. Ronchi ; G. Meneghesso ; E. Zanoni ; F. Roccaforte ; V. Raineri
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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