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A simple model to predict how many more failures will appear in testing

Bertolino A;Marchetti E
1998

Abstract

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1998
Istituto di Scienza e Tecnologie dell'Informazione "Alessandro Faedo" - ISTI
Sommario non disponibile.
Bayesian approach
Defect count models
Fuctional testing
Number of expected fai
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Descrizione: A simple model to predict how many more failures will appear in testing
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