A Review of Deep Learning-Based Anomaly Detection Strategies in Industry 4.0 Focused on Application Fields, Sensing Equipment, and Algorithms

Adriano Liso;Angelo Cardellicchio;Cosimo Patruno;Massimiliano Nitti;Pierfrancesco Ardino;Ettore Stella;Vito Renò
2024

2024
Istituto di Sistemi e Tecnologie Industriali Intelligenti per il Manifatturiero Avanzato - STIIMA (ex ITIA) Sede Secondaria Bari
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/485304
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