CNR Institutional Research Information System

An analytical approach to estimating aberrations in curved multilayer optics for hard x-rays: 1. Derivation of caustic shapes

Mocella V;
2008
2008
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
OPTICS EXPRESS
16
12050
12059
1
info:eu-repo/semantics/article
262
Guigay JP; Morawe C; Mocella V; Ferrero C
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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