CNR Institutional Research Information System

An analytical approach to estimating aberrations in curved multilayer optics for hard x-rays: 2. Interpretation and application to focusing experiments

Mocella V;
2008
2008
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
OPTICS EXPRESS
16
16138
16150
4
info:eu-repo/semantics/article
262
Morawe, C; Guigay, Jp; Mocella, V; Ferrero, C
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
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