CNR Institutional Research Information System

Wafer-level measurement of thin films thermoelectric power

Roncaglia A;Mancarella F;Cardinali GC;Cristiani S;Sanmartin M;Severi M
2005
2005
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
10th Italian Conference on Sensors and Microsystems (AISEM 2005)
Sì, ma tipo non specificato
Florence (Italy)
6
none
Roncaglia, A; Mancarella, F; Cardinali, Gc; Cristiani, S; Sanmartin, M; Severi, M
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/69303
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