CNR Institutional Research Information System

Negative bias-temperature stress in non-self-aligned p-channel polysilicon TFTs

Mariucci L;P Gaucci;A Valletta;L Maiolo;A Pecora;G Fortunato
2008
2008
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
04.01 Contributo in Atti di convegno
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