CNR Institutional Research Information System

Investigation of electrically active defects in GaAs/InAs/GaAs QDs structures by DLTS and TEM

Nasi L;Gombia E;Mosca R;Frigeri P;Seravalli L;
2006
2006
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/98351
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